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售 频谱分析仪 R&S FSU

售  频谱分析仪  R&S FSU

参数说明

详细介绍

R&S FSU 频谱分析仪 Rohde-Schwarz
罗德与施瓦茨 FSU

R&S®FSU 是一款高性能频谱分析仪,它具有出色的相位噪声、动态范围、测量精度,可满足射频分析的任何挑战,可广泛用于 67GHz 以下的航空航天和国防或常规微波应用领域。

主要特点:

• 频率范围 20 Hz ~ 3.6 GHz、8 GHz、26.5 GHz、43 GHz、46 GHz、50 GHz 和 67 GHz (使用外部混频器可达到 110 GHz/1 THz)
• 卓越的射频性能
o 相位噪声低 -- –128 dBc (1 Hz),10 kHz载波偏置下的典型值为–133 dBc (1 Hz)
o DANL –158 dBm (1 Hz)
o 三阶截止点(TOI)典型值 +25 dBm
• 分辨率带宽 1 Hz ~ 50 MHz
• 动态范围最高,例如 3GPP ACLR 测量时高达 84 dB
• 采用预放 (R&S®FSU-B24) 测量 DANL 时
o 典型值–168 dBm (1 Hz),20 GHz 时
o 典型值–155 dBm (1 Hz),50 GHz 时
• TOI、MC ACP(R)、OBW、CCDF、APD 等测量功能
• 满足蜂窝标准、无线连接性标准和一般性标准的测量应用,例如相位噪声、噪声系数、矢量信号分析等等
R&S®FSU 出色的射频性能
出色的射频性能一直是罗德与施瓦茨频谱分析仪的标志,R&S®FSU 继承了这一传统,具有以下无可比拟的卓越的射频指标:
频率范围:
• R&S®FSU3:20 Hz ~ 3.6 GHz
• R&S®FSU8:20 Hz ~ 8 GHz
• R&S®FSU26:20 Hz ~ 26.5 GHz
• R&S®FSU43:20 Hz ~ 43 GHz
• R&S®FSU46:20 Hz ~ 46 GHz
• R&S®FSU50:20 Hz ~ 50 GHz
• R&S®FSU67:20 Hz ~ 67 GHz
射频性能:
• DANL 测量的典型值为 -158 dBm (1Hz)(无预放)
• 单边带相位噪声典型值 - 133 dBc (1Hz) @ 10 kHz 偏离,载波 640 MHz
• 相位噪声典型值 - 160 dBc/Hz @ 10 MHz 偏离,载波 640 MHz
• 三阶截止点典型值 25 dBm
• 1 dB压缩点典型值 13 dBm
• WCDMA ACLR 动态范围为 77.5 dB / 84 dB(采用噪声校正)

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